Röntgendiffraktio

Röntgendiffraktio mahdollistaa näytteen kiderakenteen mikroskooppisen tutkimisen.

Röntgendiffraktio perustuu röngensäteiden interferenssiin näytteen kiderakenteesta. Sitä voidaan käyttää eri faasien tunnistamiseen sekä kidekoon ja jännityksen mittaamiseen. Näytettä voidaan kiertää eri kulmiin sekä lämmittää tai jäähdyttää faasitransitioiden mittaamista varten. Samaa laitetta voidaan käyttää myös röntgenheijastuksen mittaamiseen ja siten ohutkalvojen paksuuden (< 100 nm) tiheyden ja pinnan karkeuden mittaamiseen.

Lisätietoja laitteistosta antaa Petriina Paturi.