SEM, EDS

Pyyhkäisyelektronimikroskooppi (SEM) soveltuu monenlaisten materiaalien yksityiskohtaiseen kuvantamiseen.

SEMillä saadaan näytepinnoista kuvia nanometrien tarkkuudella. Tutkimuskohteena voivat olla nano- ja mikrokokoiset partikkelit, katalyytit, jne. Laitteistolla voidaan kuvata myös päällystämättömiä eristemateriaaleja tai magneettisia materiaaleja. Laitteistossa on energiaerotteinen röntgenanalysaattori (EDS) näytteiden alkuainekoostumuksen määrittämiseen, pyyhkäisyläpivalaisuelektronimikroskooppi (STEM) ohuiden näytteiden rakenteen kuvaamiseen sekä katodiluminesenssidetektori (CLD), jonka avulla saadaan näytteestä kuvia sen emittoivan näkyvän valon perusteella. Mikroskooppi mahdollistaa myös kuvauksen heikossa tyhjiössä (max. 500 Pa).

Lisätietoja laitteistosta antaa Ermei Mäkilä.